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簡要描述:蔡司Xradia 630 Versa X射線顯微鏡是一款高性能的顯微設(shè)備,它結(jié)合了蔡司在光學(xué)和精密機(jī)械領(lǐng)域的專長,以及X射線顯微鏡技術(shù)的新進(jìn)展。這款顯微鏡分辨率、靈活性和易用性而脫穎而出,為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)學(xué)等多個領(lǐng)域的研究提供了強(qiáng)大的工具。
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詳細(xì)介紹
品牌 | ZEISS/蔡司 | 價格區(qū)間 | 20萬-30萬 |
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儀器種類 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品,石油,交通,制藥,綜合 |
發(fā)貨地 | 北京 | 可售地 | 全國 |
蔡司Xradia 630 Versa X射線顯微鏡是一款高性能的顯微設(shè)備,它結(jié)合了蔡司在光學(xué)和精密機(jī)械領(lǐng)域的專長,以及X射線顯微鏡技術(shù)的新進(jìn)展。這款顯微鏡分辨率、靈活性和易用性而脫穎而出,為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)學(xué)等多個領(lǐng)域的研究提供了強(qiáng)大的工具。
蔡司Xradia 630 Versa的突出特點之一是采用了兩級放大架構(gòu),這種設(shè)計能夠在大工作距離下實現(xiàn)高分辨率成像。同時,它采用了同步輻射質(zhì)量級的光學(xué)元件和革新性的RaaD™(遠(yuǎn)距離高分辨率)技術(shù),相較于傳統(tǒng)微型計算機(jī)斷層掃描技術(shù)有巨大的提升。這意味著研究人員可以在不損壞樣本的情況下,獲取更加清晰、詳細(xì)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息。
此外,蔡司Xradia 630 Versa還具備深度學(xué)習(xí)算法與X射線顯微鏡的結(jié)合,這種技術(shù)能夠全面提升XRM圖像質(zhì)量,保留視野范圍內(nèi)的整體結(jié)構(gòu),同時提高細(xì)節(jié)部分的分辨率。通過簡單的引導(dǎo)式工作流程和更高的吞吐量,該設(shè)備能夠提供直觀的用戶體驗,并顯著提高生產(chǎn)力。
蔡司Xradia 630 Versa的另一個優(yōu)勢是其靈活性和易于使用的特點。無論是初學(xué)者還是經(jīng)驗豐富的研究人員,都可以通過直觀的界面和簡單的操作流程快速上手。此外,該設(shè)備還提供了廣泛的功能,如四維和原位研究、無損成像等,以滿足不同領(lǐng)域的研究需求。
總之,蔡司Xradia 630 Versa X射線顯微鏡是一款集高分辨率、靈活性和易用性于一體的*設(shè)備。它通過結(jié)合新的技術(shù)和創(chuàng)新的設(shè)計,為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域的研究提供了強(qiáng)大的支持。無論是進(jìn)行基礎(chǔ)研究還是應(yīng)用開發(fā),蔡司Xradia 630 Versa都將成為研究人員得力助手。
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